哪位大神可以清楚的告诉我SEM，EDS，XRD的区别以及各自的应用

SEM，EDS，XRD的区别，SEM是扫描电镜，EDS是扫描电镜上配搭的一个用于微区分析成分的配件——能谱仪。能谱仪(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用来对材料微区成分元素种类与含量分析，配合扫描电子显微镜与透射电子显微镜的使用。XRD是X射线衍射仪，是用于物相分析的检测设备。

扫描电子显微镜（scanning electron microscope，SEM，图2-17、18、19）于20世纪60年 代问世，用来观察标本的表面结构。其工作原理是用一束极细的电子束扫描样品，在样品表面激发出次级电子，次级电子的多少与电子束入射角有关，也就是说与样 品的表面结构有关，次级电子由探测体收集，并在那里被闪烁器转变为光信号，再经光电倍增管和放大器转变为电信号来控制荧光屏上电子束的强度，显示出与电子 束同步的扫描图像。图像为立体形象，反映了标本的表面结构。为了使标本表面发射出次级电子，标本在固定、脱水后，要喷涂上一层重金属微粒，重金属在电子束 的轰击下发出次级电子信号。 目前扫描电镜的分辨力为6~10nm，人眼能够区别荧光屏上两个相距02mm的光点，则扫描电镜的最大有效放大倍率为02mm/10nm=20000X。

EDS的原理是各种元素具有自己的X射线特征波长，特征波长的大小则取决于能级跃迁过程中释放出的特征能量△E，能谱仪就是利用不同元素X射线光子特征能量不同这一特点来进行成分分析的。使用范围：

1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；

2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；

3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；

4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；

5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、线、点分布分析。

X射线衍射仪是利用衍射原理，精确测定物质的晶体结构,织构及应力,精确的进行物相分析，定性分析，定量分析。广泛应用于冶金、石油、化工、科研、航空航天、教学、材料生产等领域。

银的xrd特征峰位置：44765，65166，82531。

化合物中最常见的化合价是+1价。另外银还有+2价和+3价，一般的+2和+3价的银的化合物不很稳定，银元素单质元素的化合价为0。银应该是fcc结构，所以在10-90之间应该是有5个峰（111）（200）（220）（311）和（222）。

应用

根据峰的位置、强度、和精细结构可以研究分子结构。一般可以通过X射线衍射（XRD）得到。因为特征峰高效准确的识别，在鉴定天然产物的方向上越来越受到重视和应用。化合物的红外光谱是其分子结构的客观反映，谱图中的吸收峰对应于分子中某化学键或基团的振动形式，同一基团的振动频率总是出现在一定区域。

峰位：如果不知道了待测物质是什么，通过峰位可以算出晶格常数，从而确定物质。如果已经知道了物质，算出的晶格常数应该跟你知道的物质的晶格常数差不多，差量可能是内应力引起的。可以据此分析内应力。

峰宽：如果是单晶，那就代表了结晶的好坏，多晶的话还跟晶粒的大小有关。

峰高：一般各峰的相对高度比较有参考价值，反映的是晶体取向度和织构的信息。

当然峰位、峰高和峰宽是要综合起来看的，而且跟多相单相，有没有杂质，单晶还是多晶都有关系，不是一两句话可以说明白的。

测什么百度一下吧，应该都有详细的测试原理及项目。

区别应该是 SEM和TEM和AFM，越来越高级，放大倍数越来越高。XRD和红外光谱这两个是没什么关系的，xrd是测试晶体结构的，可以测试晶体结构的，对于可以看出你的材料是什么。红外是靠红外吸收峰的位置与强度反映了分子结构上的特点，可以用来鉴别未知液态水的红外光谱物的结构组成或确定其化学基团；而吸收谱带的吸收强度与化学基团的含量有关，可用于进行定量分析和纯度鉴定。l红外主要用于有机化合物的结构鉴定在有机化学、生物化学、药物学、环境科学等许多领域。

首先说XRD的原理：

依据X射线对不同晶体产生不同的衍射效应来鉴定物相。任何结晶物质都有其特定的化学组成和结构参数。当X射线通过晶体时，产生特定的衍射图谱，对应一系列特定的面间距d 和相对强度I/I1值。其中d与晶胞形状和大小有关，I/I1 与质点的种类和位置有关。任何一种结晶物质的衍射数据面间距d和相对强度I/I1值是其晶体结构的必然反映。不同物质混在一起时，它们各自的衍射数据将同时出现，互不干扰地叠加在一起。因此，可根据各自的衍射数据来鉴定各种不同的物相，这就是XRD物相分析原理。

再回答你的问题：如果你测量的物质的晶型相同，物质纯度也相同，那么你不能通过XRD区分它们，因为在XRD图谱上，它们完全一致，衍射峰具有相同的强度而且出现在相同的地方。如果你测量的物质，它们的纯度是不同的，只是晶型相同，那么可以从XRD上看出区别，除了看出杂散峰不同外，衍射峰的半高宽也会有所不同。

同时附带一句，XRD不能用于测量样品纯度，只有你提前把待测物质的纯度测定好，然后进行XRD测试才是有意义的。纯度越高的物质，XRD图谱就越接近标准值。

对于结晶程度较好，具有一定粒度和含量的氧化铁矿物，XRD分析是一种简捷可靠的鉴定方法。采用本文设计的分析流程和矿物分离方法提出的红色风化壳中氧化铁矿物的XRD谱图（图3-6）显示的氧化铁矿物主要特征衍射峰是清楚的，非氧化铁矿物的干扰较小，证明样品分离的效果较好，流程设计可行。虽然部分样品在XRD图上的峰强度变化较大，并常有宽化现象，个别特征衍射峰也不明显，但是这主要是由于样品中氧化铁矿物结晶程度和粒度变化较大所致，并不影响矿物的鉴定和研究。图3-6列出了具有代表性的安顺白云岩红色风化壳剖面部分样品的XRD分析结果。图3-6显示的针铁矿特征衍射峰0418、0269和0245nm，赤铁矿的特征衍射峰027、0252、0169和0184nm是比较明显的，0269和0169nm衍射峰为针铁矿和赤铁矿所共有。XRD分析也证实了针铁矿和赤铁矿沿红色风化壳剖面纵向上是呈有规律分布的。

图3-6 贵州碳酸盐岩红色风化壳中氧化铁矿物X射线衍射图

值得指出的是，虽然一些样品经透射电镜、穆斯堡尔谱和磁学参数测定均表明含有一定量的磁赤铁矿，但在这些样品的XRD图上并未显示磁赤铁矿的特征衍射峰。这些样品的磁学参数测定表明，红色风化壳中的磁赤铁矿主要呈超顺磁状态，晶粒极小（＜003μm），导致XRD无法显示。仅在红色风化壳表土层样品经人工重砂磁选获得的微结核的XRD图上发现了磁赤铁矿的特征衍射峰，证实了磁赤铁矿的存在。磁赤铁矿微结核的XRD分析（图3-6，样品PS-01）表明，磁赤铁矿微结核由磁赤铁矿、赤铁矿和石英组成，具有较强的0334、0296、0277、0252、0209、01708、01613、0148和01095nm的衍射峰，0269、02092、01613和0148nm衍射峰是磁赤铁矿的特征衍射峰。根据特征峰强度和电子探针分析，该微结核中磁赤铁矿的含量达90%以上。这是我国首次应用电子探针分析和XRD分析确认在土壤铁质结核中有磁赤铁矿的存在。

XRD判断物相存在的基本条件：利用XRD定量测试法，检测立方和四方结构的峰所对应得结构的相对含量。

如果物质纯度高，杂质物相可能只有一个小峰也可以推断得知小峰代表的物相，用分析软件打开（如jade），去本底，平滑，寻峰，手动添加和删减峰，物相鉴定（根据材料的具体成分进行元素的合理选择），根据软件提供的标准图谱和自己的图谱比对，重合性好的可以作为一种物相。

简介

物质结构的分析尽管可以采用中子衍射、电子衍射、红外光谱、穆斯堡尔谱等方法，但是X射线衍射是最有效的、应用最广泛的手段，而且X射线衍射是人类用来研究物质微观结构的第一种方法。X射线衍射的应用范围非常广泛，现已渗透到物理、化学、地球科学、材料科学以及各种工程技术科学中，成为一种重要的实验方法和结构分析手段，具有无损试样的优点。

一般而言:分析方面:

xrd 即X-ray diffraction (测试角度广角5-80度)用于鉴定物相,解析结构,织构等用途;

x-ray scattering(测试角度为小角1-5度)用于测试纳米介孔材料等的孔径与排列有序性

物理方面: <不知道抑或知道>回答的挺清楚的

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