42荧光强度级别
421 荧光强度级别
按钻石在长波紫外光下发光强弱划分为“强”、“中”、“弱”、“无” 4 个级别。
422 荧光强度级别划分规则
4221 待分级钻石的荧光强度与荧光强度比对样品中的某一粒相同,则该样品的荧光强度级
别为待分级钻石的荧光强度级别。
4222 待分级钻石的荧光强度介于相邻的两粒比对样品之间,则以较低级别代表该钻石的荧
光强度级别。
4223 待分级钻石的荧光强度高于比对样品中的“强”,仍用“强”代表该钻石的荧光强度
级别。
4224 待分级钻石的荧光强度低于比对样品中的“弱”,则用“无”代表该钻石的荧光强度
级别。
43 分级要求
431 客观条件
颜色分级应在无阳光直射的室内环境中进行,分级环境色调应为白色或灰色。分级时采用
专用的比色灯,并以比色板或比色纸为背景。
432 人员要求
从事颜色分级的技术人员应受过专门的技能培训,掌握正确的操作方法。由 2~3 名技术人员独立完成同一样品的颜色分级,并取得统一结果。
5 净度分级
51 净度级别
分为 LC 、 VVS 、 VS 、 SI 、 P 五个大级别,又细分为 LC 、 VVS 1 、 VVS 2 、 VS 1 、
VS 2 、 SI 1 、 SI 2 、 P 1 、 P 2 、 P 3 十个小级别。
对于质量低于(不含) 00940g(047ct) 的钻石,净度级别可划分为五个大
级别。
52 净度级别的划分规则
521 LC 级
在 10 倍放大镜下,未见钻石具内外部特征。下列情况仍属 LC 级:
5211 额外刻面位于亭部,冠部不可见。
5212 原始晶面位于腰围内,不影响腰部的对称,冠部不可见。
5213 内部生长线无反射现象,不影响透明度。
5214 钻石内、外部有极轻微的特征,经轻微抛光后可去除。
5215 上述情况对以下级别划分不产生影响。
522 VVS 级
在 10 倍放大镜下,钻石具极微小的内、外部特征,细分为 VVS 1 、 VVS 2 。
5221 钻石具有极微小的内、外部特征, 10 倍放大镜下极难观察,定为 VVS 1 级。
5222 钻石具有极微小的内、外部特征, 10 倍放大镜下很难观察,定为 VVS 2 级。
523 VS 级
在 10 倍放大镜下,钻石具细小的内、外部特征,细分为 VS 1 、 VS 2 。
5231 钻石具细小的内、外部特征, 10 倍放大镜下难以观察,定为 VS 1 级。
5232 钻石具细小的内、外部特征, 10 倍放大镜下比较容易观察,定为 VS 2 级。
524 SI 级
在 10 倍放大镜下,钻石具明显的内、外部特征,细分为 SI 1 、 SI 2 。
5241 钻石具明显的内、外部特征, 10 倍放大镜下容易观察,定为 SI 1 级。
5242 钻石具明显的内、外部特征, 10 倍放大镜下很容易观察,定为 SI 2 级。
525 P 级
从冠部观察,肉眼可见钻石具内、外部特征,细分为 P 1 、 P 2 、 P 3 。
5251 钻石具明显的内、外部特征,肉眼可见,定为 P 1 。
5252 钻石具很明显的内、外部特征,肉眼易见,定为 P 2 。
5253 钻石具极明显的内、外部特征,肉眼极易见,定为 P 3 。
不是。
1、宽度和形状影响:荧光光谱可以由多个波长组成,不仅仅局限于最大峰处,荧光物质具有多个发射峰或较宽的光谱带,计算荧光强度需要考虑整个光谱范围的发光强度。
2、光谱位置不确定:荧光峰值的位置因荧光材料和实验条件的变化而有所改变,因此,以最大峰的峰值作为荧光强度的指标不全面和一致。
平均荧光强度是该区域荧光强度总和(IntDen)和该区域面积(Area)的比值。平均荧光强度定义是对于一张单通道(单色)的荧光,每个像素的灰度值代表了该点的荧光强度大小,特定区域的荧光强度公式:平均荧光强度(Mean)=该区域荧光强度总和(IntDen)/该区域面积(Area)。
200-300。荧光强度网织红细胞是指通过使用核酸荧光染料对网织红细胞胞浆中的RNA进行染色。一般材料的荧光强度为200-300。材料是指小企业库存的各种材料,包括原料及主要材料、辅助材料、外购半成品等。
流式平均荧光强度反映精确地数值。
左边这张图每个峰下面积除以细胞数就是平均荧光强度,在流式细胞仪分析完结果后会出据平均荧光强度的数值,可以看原始数据。右边这张图纵坐标。
流式细胞仪检测得到的都是相对值,没有单位。这个平均荧光强度也是一样。单独看一个样本的值是没有意义的,要么是比较不同样本直接的差别,要么是比较同一个样本中,两个不同荧光强度细胞群的差别。
基本结构
1、液流系统,包括流动室和液流驱动系统。
2、光学系统,包括激发光源和光束收集系统。
3、电子系统,包括光电转换器和数据处理系统。流式细胞仪的工作原理是使悬浮在液体中分散的经荧光标记的细胞或微粒逐个通过样品池,同时由荧光探测器捕获荧光信号并转换成分别代表前向散射角、侧向散射角和不同荧光强度的电脉冲信号,经计算机处理形成相应的点图,直方图和加三维结构图像进行分析。
常规仪器很难将荧光做“定量”,所谓相对,也需要看和谁来对。一般测量结果需要看荧光光谱仪是否做过光谱校正。在仪器的设计上,光谱位置由光谱仪确定,出厂时做过校正和检验,影响光谱强度的因素很多,包括光源强度和稳定性,光学系统的透反率,探测器响应度,杂散光等等。所以好的谱仪都会使用标准光光源和标准探测器对系统做标定,生成校正数据文件,在测量时,自动计算这种误差,形成相对于标准光源(探测器)的光谱响应曲线。
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